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環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)中低溫儲(chǔ)存篩選和老練篩選的簡(jiǎn)單介紹
產(chǎn)品介紹 環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)中低溫儲(chǔ)存篩選和老練篩選的簡(jiǎn)單介紹：
低溫貯存篩選：
低溫存篩選是根據(jù)某些材料在低溫下性能劣化，或根據(jù)各種材料在低溫下冷縮程度不同造成結(jié)構(gòu)破壞而失效的原理，來(lái)剔除缺陷產(chǎn)品的一種篩選方法。例如，內(nèi)涂覆材料龜裂而掙斷內(nèi)引線，某些金屬引線在低溫下發(fā)脆而造成脫焊、絕緣材料龜裂而使外殼漏氣等。
老練篩選：
老練篩選就是在較長(zhǎng)的時(shí)間內(nèi)對(duì)元器件連續(xù)施加一定的電應(yīng)力，通過(guò)電-熱應(yīng)力的綜合作用來(lái)加速元器件內(nèi)部的各種物理、化學(xué)反應(yīng)過(guò)程，促使元器件內(nèi)部各種潛在缺陷盡早暴露，從而達(dá)到剔除早期失效產(chǎn)品的目的。它對(duì)工藝制造過(guò)程中可能存在的一系列缺陷，如表面沾污、引線焊接不良、溝道漏電、 硅片裂紋、氧化屠缺陷、局部發(fā)熱點(diǎn)、二次擊穿等都有較好的篩選效果。對(duì)于無(wú)缺陷的元器件，也可促使其電參數(shù)穩(wěn)定。
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半導(dǎo)體器件常用的老練篩選方法
