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產(chǎn)品介紹
光電材料耐塵試驗(yàn)箱-可靠性分配的基本原則和注意事項(xiàng)
◆、可靠性指標(biāo)的分配目的是保證設(shè)備的可靠性指標(biāo)得以實(shí)現(xiàn)，所以各分機(jī)或分系統(tǒng)負(fù)責(zé)人都應(yīng)力求完成所負(fù)責(zé)部分的可靠性指標(biāo),全體人員都應(yīng)把實(shí)現(xiàn)設(shè)備系統(tǒng)的可靠性指標(biāo)作為自己努力的目標(biāo)。
◆、將可靠性指標(biāo)分配給各個分機(jī)或分系統(tǒng)并不是平均分配的，要根據(jù)各分機(jī)或分系統(tǒng)的復(fù)雜性、重要度等因索進(jìn)行權(quán)衡。
◆、對系統(tǒng)的關(guān)鍵部位，即重要度程度髙的部分分配的指標(biāo)應(yīng)高一點(diǎn)。任何一個系統(tǒng)都會有幾個關(guān)鍵部位,只要這些部位不出故障,系統(tǒng)就能比較可靠地工作。所以要優(yōu)先考慮滿足系統(tǒng)的關(guān)鍵部位的可靠性要求。
◆、對比較復(fù)雜的分機(jī)或分系統(tǒng)，分配的指標(biāo)要低一點(diǎn)。因?yàn)閺?fù)雜度愈髙要實(shí)現(xiàn)高可靠就愈困難。
◆、對工作環(huán)境差的分機(jī)或分系統(tǒng),分配的指標(biāo)要低一點(diǎn)。特別是對設(shè)備中局部環(huán)境差的分系統(tǒng)或部件，要給予充分注意。例如,散熱元件旁邊的部件，或接近振動源的部件等,分配的指標(biāo)就應(yīng)低一些。
◆、對于設(shè)備在現(xiàn)場使用中便于維修或人工補(bǔ)救的分系統(tǒng)或部件，分配的指標(biāo)可以低一些。萬一失效了，能夠在較短時間內(nèi)恢復(fù)工作能力,或采取補(bǔ)救措施,不致影響使用。
◆、根據(jù)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，對改進(jìn)潛力大的分系統(tǒng)或部件,分配的指標(biāo)可以高一點(diǎn)。一般來說，可靠性低的系統(tǒng)改進(jìn)的潛力大一些，可靠性較高的系統(tǒng)改進(jìn)起來就困難一些，而且潛力小，要提高一點(diǎn)都很費(fèi)勁。
◆、對于那些可以選用較多的典型電路的分系統(tǒng)，也就是電路設(shè)計(jì)比較成熟的那些分系統(tǒng),可靠性指標(biāo)可以分配得高一些。而對于那些需要新設(shè)計(jì)的電路，或需要選用一些新型元器件的分系統(tǒng)，指標(biāo)要分配得低一些。
光電材料耐塵試驗(yàn)箱電路控制系統(tǒng)：
◆、光電材料耐塵試驗(yàn)箱采用進(jìn)口可編程控制器有效保證試驗(yàn)按標(biāo)準(zhǔn)運(yùn)行，配備抽真空執(zhí)行器件，“施耐德”執(zhí)行元器件，吹塵風(fēng)機(jī)時間自動交替進(jìn)行，振動和停止振動時間自動交替進(jìn)行。
◆、光電材料耐塵試驗(yàn)箱真空壓力指示
◆、光電材料耐塵試驗(yàn)箱可編程控制器具有四個輸出點(diǎn)同時完成四個不同時間的程序執(zhí)行，每一個輸出點(diǎn)都有兩個時間段控制（即啟動時間和停止時間），可分別對吹塵風(fēng)機(jī)、粉塵振動和總的試驗(yàn)時間進(jìn)行單獨(dú)或集體的時間控制。
光電材料耐塵試驗(yàn)箱特點(diǎn)：
◆、光電材料耐塵試驗(yàn)箱適用于各種汽車零部件做防塵及耐塵試驗(yàn)，測試部件包含有車燈、儀表、電氣防塵套、轉(zhuǎn)向系統(tǒng)、門鎖等。
光電材料耐塵試驗(yàn)箱粉塵預(yù)熱系統(tǒng)：
◆、用管道包箍式云母片加熱圈，安全熱量穩(wěn)定，具有定時加熱控制。
光電材料耐塵試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：
◆、金屬篩網(wǎng)標(biāo)標(biāo)稱線徑：50μm，線間標(biāo)稱間距為75μm
◆、氣流速度：≤2m/s或≥2m/s
◆、連續(xù)、周期吹塵任意選擇時間設(shè)定
◆、砂塵濃度：2kg/m3～4kg/m3
◆、試驗(yàn)用塵：干燥滑石粉、硅酸鹽水泥、煙通灰等
◆、振動時間：0～999H 可調(diào)
光電材料耐沙塵試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)：
◆、光電材料耐塵試驗(yàn)箱底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動輪
◆、光電材料耐塵試驗(yàn)箱底部有更換粉塵裝置
◆、箱體外殼材料：優(yōu)質(zhì)鋼板噴塑處理
◆、內(nèi)膽材料：SUS不銹鋼光板
◆、可視玻璃門，便于觀測試驗(yàn)箱體內(nèi)被測試樣狀況
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